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了解X熒光光譜儀分析模式 讓檢測得心應(yīng)手
發(fā)布時(shí)間:2025-01-08 點(diǎn)擊:140

X熒光光譜儀可以應(yīng)用于水泥、鋼鐵、建材、石化、有色、硅酸鹽、煤炭、高嶺土、耐火材料、科研、環(huán)保等行業(yè),是一種中型、經(jīng)濟(jì)、高性能的光譜儀。采用固定通道,減少測量時(shí)間;固定通道尤其適用于熒光產(chǎn)額較低的輕元素和微量元素的測定,以提高分析精度和靈敏度。X熒光光譜儀采用操作方便,用戶習(xí)慣的智能化軟件,提供全自動分析操作,實(shí)現(xiàn)快速定性、定量分析和半定量分析 。

X熒光光譜儀一般有以下三點(diǎn)分析模式:

1、點(diǎn)分析

將電子探針固定在試樣感興趣的點(diǎn)上,進(jìn)行定性或定量分析。該方法用于顯微結(jié)構(gòu)的成份分析,例如,對材料晶界、夾雜、析出相、沉淀物、奇異相及非化學(xué)計(jì)量材料的組成等分析。

2、線分析

電子束沿一條分析線進(jìn)行掃描(或試樣掃描) 時(shí),能獲得元素含量變化的線分布曲線。如果和試樣形貌像(二次電子像或背散射電子像)對照分析,能直觀地獲得元素在不同相或區(qū)域內(nèi)的分布。沿感興趣的線逐點(diǎn)測量成分,也可以劃出該線的成分變化曲線。

3、面分析

將電子束在試樣表面掃描時(shí),元素在試樣表面的分布能在CRT上以亮度分布顯示出來(定性分析),亮度越亮,說明元素含量越高。研究材料中雜質(zhì)、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常與形貌像對照分析。
點(diǎn)、線、面分析方法用途不同,檢測靈敏度也不同,定點(diǎn)分析靈敏度最高,面掃描分析靈敏度最低。

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