在使用手持式X熒光光譜儀時我們經(jīng)常聽說的一個專業(yè)術(shù)語，就是：“基體效應(yīng)”，那這個基體效應(yīng)是什么呢？簡單來說，基體效應(yīng)是X射線熒光光譜儀定量分析的主要誤差來源之一。
我們在了解基體效應(yīng)的同時首先應(yīng)該要知道什么是“基體”。所謂基體就是在手持式X熒光光譜儀的測量過程中，實際工作中被測量的樣品，往往其成份是由多種元素組成，除待測元素以外的元素統(tǒng)稱為基體。
由于被測量的樣品中，其基體成份是變化的(這個變化一是指元素的 變化，二是指含量的變化)，它直接影響待測元素特征X射線強度的測量。換句話說，待測元素含量相同，由于其基體成份不同，測量到的待測元素特征X射線強度也是不同的，這就是基體效應(yīng)。
在手持式X熒光光譜儀中基體效應(yīng)是個無法避免的客觀事實，其物理實質(zhì)是激發(fā)(吸收)和散射造成特征X射線強度的變化，除待測元素外，基體成份中靠近待測元素的那些元素對激發(fā)源的 射線和待測元素特征X射線產(chǎn)生光電效應(yīng)的幾率比輕元素(在地質(zhì)樣品中一些常見的主要造巖元素)的幾率大得多，也就是這些鄰近元素對激發(fā)源發(fā)射的X射線和待測元素的特征X射線的吸收系數(shù)比輕元素大得多;輕元素對激發(fā)源放出的射線和待測元素的特征X射線康普頓散射幾率比重元素大得多。
在手持式X熒光光譜儀中基體效應(yīng)是個無法避免的客觀事實，其物理實質(zhì)是激發(fā)(吸收)和散射造成特征X射線強度的變化，除待測元素外，基體成份中靠近待測元素的那些元素對激發(fā)源的 射線和待測元素特征X射線產(chǎn)生光電效應(yīng)的幾率比輕元素(在地質(zhì)樣品中一些常見的主要造巖元素)的幾率大得多，也就是這些鄰近元素對激發(fā)源發(fā)射的X射線和待測元素的特征X射線的吸收系數(shù)比輕元素大得多;輕元素對激發(fā)源放出的射線和待測元素的特征X射線康普頓散射幾率比重元素大得多。
除了基體效應(yīng)，我們在手持式X熒光光譜儀中還分一些其它的效應(yīng)，比如：
1. 放射源放出的射線激發(fā)待測元素A，產(chǎn)生特征X射線AK線稱為光電效應(yīng)。
2.AKX線在出射樣品時遇到C元素激發(fā)了C元素特征X射線CK而A元素特征X射線強度減小了，稱為吸收效應(yīng)。
3.放射源激發(fā)了B元素，BKX線又激發(fā)了A元素，使A元素特征X射線計數(shù)增加，稱為增強效應(yīng)，又稱為二次熒光。
1. 放射源放出的射線激發(fā)待測元素A，產(chǎn)生特征X射線AK線稱為光電效應(yīng)。
2.AKX線在出射樣品時遇到C元素激發(fā)了C元素特征X射線CK而A元素特征X射線強度減小了，稱為吸收效應(yīng)。
3.放射源激發(fā)了B元素，BKX線又激發(fā)了A元素，使A元素特征X射線計數(shù)增加，稱為增強效應(yīng)，又稱為二次熒光。
以上就是我們常常聽到的關(guān)于手持式X熒光光譜儀的一些有關(guān)“基體效應(yīng)”的常識。